La couleur Diplay 7 sonde l'appareil de contrôle portatif de dureté de Leeb

Appareil de contrôle portatif de dureté sonde de lecture de HARTIP2500 + de RP
 
La sonde de lecture de RP est un dispositif d'impact pour l'appareil de contrôle de dureté de Leeb, qui non seulement peut fonctionner avec l'appareil de contrôle de dureté de série de SADT en tant que sonde externe avec le câble, mais également peut travailler indépendamment comme appareil de contrôle simple. Il y a une batterie de Li-ion à l'intérieur de la sonde, qui peut être chargée par l'intermédiaire du fournisseur d'USB. Tous les paramètres de l'appareil de contrôle peuvent être placés de l'appareil de contrôle principal. L'installation principale du matériel et de l'échelle du défaut d'usine est en acier et HRC, qui peuvent rencontrer beaucoup du travail courant pour l'essai de dureté. HARTIP 2500 + sonde de lecture devenir une option rentable - un paiement pour deux.
 
Avantages
 
› de› équipé des sondes numériques seulement
effet coûté par› de› tive avec la sonde de lecture (facultative)
exactitude élevée de répétabilité de› de› : +/--2 HL (ou 0,3% @HL800)
exactitude linéaire élevée de› de› pour tous angles
ecran couleur de TFT de› de›
automobile de› de› compenser l'erreur le tion différent de direc de l'impac t
le› de› a actionné par l'alimentation de la pâte lisse y d'aa ou de l'énergie d'USB
le› de› l'appareil de contrôle peut être l'attrac se faner à l'objet avec la base magnétique (facultative)
la valeur de statistiques de› de› peut être calculée automatiquement
› de› jusqu'à 10 genres de langue de menu
données de› de› contrôlant le tware de sof sur le PC
sous tension/hors tension de› de› automatiquement ou manuellement
 
Spécifications
 

Usages spéciaux des dispositifs d'impact

 Conditions rapportées pour prélever le poids

• Pour des échantillons pesant plus de 5 kilogrammes et de forme compacte, aucun appui n'est nécessaire.
• Des échantillons pesant entre 2-5 kilogrammes, et également pour des échantillons plus lourds avec les pièces saillantes ou les murs minces, devraient être placés sur un ferme appui de façon qu'ils ne se plient pas ou ne se déplacent pas par la force d'impact.
• Des échantillons pesant moins de 2 kilogrammes devraient être fermement ajoutés à un appui stable pesant plus de 5 kilogrammes.
• Pour l'accouplement,
  • La surface de accouplement entre l'échantillon et l'embase devrait être parallèle et terre plats et plats.
  • Une couche mince appropriée de pâte de accouplement doit être appliquée à la surface de contact de l'échantillon.
  • L'échantillon devrait être fermement pressé contre la surface d'embase en la déplaçant avec un mouvement circulaire.
  • La direction de l'impact devrait être perpendiculaire à la surface de accouplement.
• Pour l'opération de accouplement, les conditions préalables suivantes doivent être accomplies :
  • La surface de contact entre l'échantillon et l'embase doivent être le parallèle et la terre plats et plats.
  • La direction de l'impact d'essai doit être perpendiculaire à la surface couplée.
  • L'épaisseur minimum de l'échantillon pour coupler sous de divers dispositifs d'impact sont montrées dans la table suivante :

Forfait standard
Unité principale 1 de HARTIP 2500
Sonde D 1 de Digital
Bloc d'essai D 1
Petit anneau 1 de soutien
Brosse de nettoyage 1
Câble 1 de sonde
Logiciel
Câble 1 d'USB
Manuel d'exploitation 1
Certificat d'essai 1
Housse de transport 1